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太陽能小組件IV測試儀是一種采用脈沖式光源模擬標準測試條件(STC),專門用于快速、精確地測量單塊電池片、單串電池、小型組件或樣品的電流-電壓(IV)特性曲線,并自動計算出其關鍵性能參數(shù)(如開路電壓Voc、短路電流Isc、最大功率Pmax、填充因子FF、轉(zhuǎn)換效率等),同時具備組件等級判定功能,廣泛應用于研發(fā)實驗室、生產(chǎn)線質(zhì)量控制、來料檢驗及失效分析等環(huán)節(jié)的專業(yè)測試設備。
精準高效的脈沖測試: 采用高精度脈沖式光源瞬時模擬標準測試條件(STC),能在毫秒級時間內(nèi)完成一次IV特性測量,最大程度減少被測組件溫升影響,確保測量結果(Voc, Isc, Pmax, FF, 效率等)的準確性和重復性。
全自動測量與數(shù)據(jù)分析: 設備一鍵啟動即可自動完成IV曲線掃描、數(shù)據(jù)采集,并內(nèi)置算法實時計算所有關鍵性能參數(shù),自動生成測試報告,顯著提升測試效率,減少人工操作誤差,特別適合生產(chǎn)線高速檢測。
智能等級判定與數(shù)據(jù)管理: 具備預設標準或自定義參數(shù)閾值功能,可自動根據(jù)測試結果(如功率、效率)對被測小組件進行快速等級分檔(A品、B品等)或合格/不合格判定,并支持數(shù)據(jù)存儲、追溯、導出及聯(lián)網(wǎng)管理,方便質(zhì)量控制和統(tǒng)計分析。
廣泛兼容性與靈活性: 設計適用于多種規(guī)格的小型光伏組件,包括單/多晶硅電池組件等,夾具設計靈活易用,可滿足研發(fā)、實驗室、產(chǎn)線QC、來料檢驗、失效分析等不同場景的多樣化測試需求。
項目 | 參數(shù) |
---|---|
型號規(guī)格 | YHMT-AAA |
光源 | 符合IEC60904-9:2020光譜要求(A級) |
光譜范圍 | 300~1200nm |
輻照度 | 1000W/㎡(200~1200W/㎡) |
光強不均勻度 | ≤2%(A) |
光強不穩(wěn)定度 | ≤2%(A) |
測試結果一致性 | ≤1% |
電性能測量誤差 | ≤2% |
單次閃光脈沖寬度 | 10ms |
有效測試面積 | 1000*800mm |
電源 | 220V/50HZ |
1、支撐光伏研發(fā)創(chuàng)新:用于快速評估新材料、新電池結構(如疊瓦、切割片)或新工藝樣品的電性能(IV曲線及Voc、Isc、Pmax等參數(shù)),為技術優(yōu)化和產(chǎn)品設計提供關鍵數(shù)據(jù)支撐。
2、保障生產(chǎn)線質(zhì)量與效率:在電池片分選、串焊及小組件封裝等關鍵工序進行在線/離線檢測,快速篩選不良品、實現(xiàn)功率自動分檔(Bin),確保產(chǎn)品一致性和生產(chǎn)良率。
3、嚴控來料質(zhì)量關口:對采購的電池片、單串電池或小型樣品進行入廠檢驗,驗證供應商規(guī)格參數(shù)(尤其是功率和效率)真實性,防止劣質(zhì)原材料流入生產(chǎn)環(huán)節(jié),降低后續(xù)風險。
4、診斷組件失效與可靠性:用于分析老化測試(濕熱、PID等)后或戶外失效組件的性能衰減原因,通過對比IV曲線變化精準定位故障模式(如電阻劣化、活性區(qū)域損失),指導產(chǎn)品改進。
1、嚴格遵守光源安全規(guī)范: 設備發(fā)出的強光脈沖能量高、亮度極大,測試過程中嚴禁直視光源或打開測試倉門。
2、確保良好接地與電氣隔離: 設備涉及高電壓、大電流輸出,必須可靠接地并確保電源符合規(guī)格要求,定期檢查線纜絕緣性。
3、精確控制測試環(huán)境溫濕度: 組件性能受溫度顯著影響,測試前需充分預熱/預冷組件至設定溫度(通常25℃±1℃),并實時精確監(jiān)測組件表面溫度(使用校準的接觸式傳感器);環(huán)境濕度需控制在規(guī)定范圍(通常<60% RH),防止結露或高壓放電風險。
4、正確使用測試夾具: 定期清潔測試夾具防止氧化,避免接觸不良導致測量誤差或局部過熱損壞組件。
5、定期校準與維護設備核心部件: 光源強度(輻照度均勻性、穩(wěn)定性)、電流/電壓傳感器精度、溫度探頭是核心計量單元,必須依據(jù)標準(如IEC 60904系列)定期校準;同時需維護光學部件(清潔透鏡/反射器)和機械運動機構,確保設備狀態(tài)穩(wěn)定可靠。
6、規(guī)范操作流程與參數(shù)設置: 測試前準確輸入組件參數(shù)(如標稱功率、類型);謹慎設置脈沖寬度和電壓強度,避免過長/過強脈沖造成組件不可逆熱損傷(尤其對薄型或溫度敏感材料);測試后待組件充分冷卻再進行下一輪測試或移出;處理異常數(shù)據(jù)時需排查環(huán)境、接觸、設備狀態(tài)等因素,嚴禁隨意篡改或忽略異常結果。