歡迎來到武漢曜華激光科技有限公司！
常見問題
網(wǎng)站地圖
語言選擇：
中文
English
歡迎來到武漢曜華激光科技有限公司！
常見問題
網(wǎng)站地圖
語言選擇：
中文
English
| 品牌: | 曜華激光 |
| 產(chǎn)品型號: | YH-LED |
| 計量單位: | |
鈣鈦礦組件穩(wěn)態(tài)LED太陽光模擬器是一種基于LED陣列光源、能夠提供持續(xù)穩(wěn)定且光譜匹配度符合國際標準要求的太陽光輻照，專門用于在實驗室環(huán)境下精確測試鈣鈦礦太陽能電池組件光電性能（如功率輸出、效率、I-V特性等）的關(guān)鍵設(shè)備。
卓越的光譜匹配度與穩(wěn)定性： 采用精密設(shè)計的LED陣列光源，其輸出光譜嚴格匹配國際標準（如IEC 60904-9）規(guī)定的AM1.5G太陽光譜，尤其確保對鈣鈦礦材料敏感波段（如可見光區(qū)）的高匹配度，并能在長時間測試中保持光譜和光強的極低波動（通常達到AAA級或更高標準），為鈣鈦礦組件提供精準、可靠的模擬光照環(huán)境。
真正穩(wěn)態(tài)輸出，規(guī)避瞬態(tài)效應影響： 區(qū)別于脈沖式光源，它能夠提供持續(xù)、穩(wěn)定（非閃爍）的光照輸出，徹底消除因光照快速變化導致的鈣鈦礦組件內(nèi)部離子遷移、電容充放電等瞬態(tài)效應，從而獲得真實反映組件在持續(xù)日照條件下工作狀態(tài)的電流-電壓特性（I-V曲線）和最大功率點輸出（MPP）等關(guān)鍵性能參數(shù)。
高均勻光照與靈活光強調(diào)節(jié)： 精心設(shè)計的光學系統(tǒng)可在有效輻照面（覆蓋典型鈣鈦礦組件尺寸）上實現(xiàn)高度均勻的光強分布（均勻性通常優(yōu)于±2%），避免邊緣效應導致的測試誤差；同時LED光源具備寬范圍、高精度的光強調(diào)節(jié)能力（如從低于標準1個太陽到數(shù)倍太陽光強），滿足鈣鈦礦組件在不同輻照度條件下的性能測試與衰減研究需求。
高效能、長壽命與智能化控制： LED光源本身具有能耗低、發(fā)熱量相對較小、壽命超長的顯著優(yōu)勢，大幅降低運行和維護成本；設(shè)備集成先進的控制系統(tǒng)，可實現(xiàn)光照強度、光譜穩(wěn)定性、均勻性的實時監(jiān)控與自動校準，并具備溫度監(jiān)控（部分型號可選配溫控平臺）及與外部測試設(shè)備（如源表、IV測試儀）的智能聯(lián)動，大幅提升鈣鈦礦組件測試的自動化程度、效率和可重復性。
材料篩選與配方驗證：精確模擬真實日照環(huán)境，測試不同鈣鈦礦材料（如純鉛、錫鉛混合、二維/三維結(jié)構(gòu)）的光電響應特性，加速新型光活性層、傳輸層材料的開發(fā)。
器件結(jié)構(gòu)優(yōu)化：通過穩(wěn)態(tài)光照下的電流-電壓（I-V）特性、外量子效率（EQE）等測試，評估電極設(shè)計、界面工程、封裝工藝對組件性能的影響，指導結(jié)構(gòu)創(chuàng)新。
持續(xù)光老化測試：提供長時間（數(shù)百至數(shù)千小時）穩(wěn)定光照，結(jié)合溫濕度控制模塊，模擬戶外實際運行條件，量化鈣鈦礦組件在光、熱應力下的衰減率與失效機制（如離子遷移、相分離）。
加速老化研究：通過調(diào)節(jié)光強（如1.5倍以上太陽光強）加速材料降解，快速驗證封裝技術(shù)、鈍化策略的可靠性，縮短產(chǎn)品壽命認證周期。
產(chǎn)線端性能標定：在組件出廠前進行穩(wěn)態(tài)IV測試，確保功率輸出、填充因子（FF）等參數(shù)符合標稱值（如IEC 61215標準），避免脈沖光源因瞬態(tài)效應導致的測試偏差。
國際標準符合性測試：提供符合IEC 60904-9光譜匹配度（AAA級）及均勻性要求的穩(wěn)態(tài)光照環(huán)境，支撐鈣鈦礦組件申請UL、TÜV等權(quán)威認證。
公平性能比對：為學術(shù)界與產(chǎn)業(yè)界提供統(tǒng)一測試基準，消除不同光源（氙燈、脈沖LED）導致的效率虛高問題，促進鈣鈦礦技術(shù)路線的客觀評估與商業(yè)化落地。
工藝一致性監(jiān)控：檢測大面積鈣鈦礦組件（如30×30 cm²）在均勻光照下的性能波動，定位涂布、激光劃刻等工藝缺陷，提升良品率。
校準周期：首次使用前及每運行500小時（或按廠商建議）需用標準參考電池校準光譜匹配度（確保符合IEC 60904-9的AAA級標準）和光強（1000 W/m²），避免因LED老化導致測試偏差。
環(huán)境干擾：校準需在暗室、恒溫（25±1°C）下進行，排除雜散光與溫度波動影響。
強制散熱：鈣鈦礦組件在持續(xù)光照下易升溫（>50°C可能加速降解），必須配合溫控平臺（如水冷或半導體制冷），維持組件溫度在25±2°C（或測試協(xié)議指定溫度）。
實時監(jiān)控：集成溫度傳感器緊貼組件背板，數(shù)據(jù)同步記錄至測試系統(tǒng)，溫度異常時自動降光強或停機。
區(qū)域匹配：輻照均勻性（通常需>±2%）僅在標定有效區(qū)域內(nèi)成立，測試時組件必須完全覆蓋該區(qū)域，邊緣超出會導致效率虛高或失真。
定期測繪：每季度用多探頭輻照計掃描光斑均勻性，尤其在大尺寸組件（>20×20 cm²）測試前。
四線制連接：組件電極需采用四線制（Kelvin連接）接至源表，分離電流傳輸與電壓檢測線，消除導線電阻壓降誤差。
接地屏蔽：整套系統(tǒng)（模擬器、源表、組件）需共地并加電磁屏蔽，防止LED驅(qū)動高頻噪聲干擾弱電流信號（nA級暗電流）。
LED老化預防：避免長時間滿負荷運行（如>8小時連續(xù)高光強），每運行2小時建議暫停10分鐘；定期清潔LED透鏡表面灰塵（用無塵布+光譜級乙醇），防止光衰或光譜偏移。
紫外衰減監(jiān)控：若設(shè)備含紫外LED波段（300–400 nm），需每半年檢測紫外輸出強度（鈣鈦礦對該波段敏感），必要時更換紫外LED模塊。
組件尺寸預警：禁止測試超出設(shè)備標定最大尺寸的組件，否則引發(fā)光學系統(tǒng)損壞或火災風險。
眼部防護：操作時佩戴防藍光眼鏡（LED高能藍光波段占比約15%），非測試人員勿直視光源；設(shè)備運行時外殼需完全閉合，防止光輻射泄漏。